标王 热搜: 石墨烯  氧化石墨烯  吉仓纳米  碳纳米管  石墨烯膜  氧化石墨  制备  Haydale  二硫化钼  上市 
 
当前位置: 首页 » 行业资讯 » 行业动态 » 正文

【原创】石墨烯如今可用来解决XPS分析技术的材料问题问题

放大字体  缩小字体 发布日期:2014-12-25  浏览次数:984
核心提示:来自国家标准与技术研究所(NIST),ELETTRA(意大利)和慕尼黑工业大学(德国)的研究者发现,石墨烯可以利用XPS(x射线光电子能谱)分析
 来自国家标准与技术研究所(NIST),ELETTRA(意大利)和慕尼黑工业大学(德国)的研究者发现,石墨烯可以利用XPS(x射线光电子能谱)分析技术以更低的成本分析更复杂的数据。

        XPS是一个精确的表面分析技术,但通常不怎么被采用,因为它的成本很昂贵,需要高真空操作,这使得液体和气体的材料分析成了问题。 XPS就是利用X射线轰击材料下表面来对其进行研究。 材料的表面原子吸收x射线能量并重新发射光电子。 科学家以发射电子的动能和数量为线索来分析样本组成和电子状态。


        若解决在加压环境下分析工作,需要一个合适的窗口材料,对X射线光电子透过率要高,而不透水气体和液体,同时强度足以承受巨大的压力。 因此科学家们转向了石墨烯材料,并探讨它在高真空度条件,强压下的材料分离样品阶段的窗口材料。


       结果表明,x射线和光电子可以成功通过高质量生产的石墨烯窗口来从从液体和气体材料上获取XPS数据。 研究人员相信,这一发现可以受益很多科学家,可以在一个潜在的低成本下享受理想的样品XPS分析。


      但其中仍然存在着一些挑战,比如窗口周围的石墨烯表面的附着力需要改善。同时连续的X射线,随着时间的推移可能自动降低石墨烯厚度。


cite azonano 
责任翻译:Synic
 
 
[ 行业资讯搜索 ]  [ 加入收藏 ]  [ 告诉好友 ]  [ 打印本文 ]  [ 关闭窗口 ]

 
0条 [查看全部]  相关评论

 
推荐图文
推荐行业资讯
点击排行
 
网站首页 | 关于我们 | 联系方式 | 使用协议 | 版权隐私 | 网站地图 | 排名推广 | 广告服务 | 积分换礼 | 网站留言 | RSS订阅 | 苏ICP备11088680号